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7月4日,ICC讯石联合是德科技举办硅光芯片及器件on-wafer测试技术研讨会。会议邀请到了是德科技联合FormFactor的高级光学工程师袁博士将对硅光器件发展趋势及晶圆/芯片级测试方案做相关介绍并与嘉宾互动。